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直读光谱仪器之第三元素干扰及其修正
发布时间：2020-07-27 13:42:24 点击：3676
直接激发金属和合金分析时，在光源的作用下，试样中所有元素一起进入蒸气云中。一种合金一般都含有一种主要成份，我们称之为基体元素。在分析元素和基体元素之外存在于试样中的元素称为第三元素。由于第三元素的存在而引起分析元素谱线强度的改变，造成分析结果的波动称为第三元素的干扰。
产生干扰的原因很多，如：
第一：试样中基体成份的改变，产生的基体效应事实上也是第三元素的干扰。
第二：第三元素与分析元素谱线重叠或靠近，同时被光电倍增管所接收，这就形成了第三元素谱线强度的叠加或干扰。
第三：物理化学因素所造成的干扰，致使分析间隙的蒸气成份和温度发生变化。引起元素谱线强度的增加和抑制，从而影响被测元素的谱线强度，造成分析结果发生偏差。
第四：是谱线背景变化的影响，由于干扰元素的影响，造成分析线背景的变化，从而造成分析谱线光强变化。
第五：内标线受到第三元素的干扰。
第六：是带状分子光谱的干扰。
以上几个方面的干扰，给待测试样的分析结果带来很大误差。总的说来使元素的工作曲线产生移动和转动。
Fe元素
研究第三元素干扰是非常复杂的事情；元素之间的相互干扰也是非常普遍的。为了提高分析的精密度；用好干扰元素的修正公式，研究干扰的原因，不断地提高分析技术水平。
(1)叠加式干扰修正
叠加式干扰系数的实际含意是试样中1%干扰元素对被干扰元素增加了多少光强比。
(2)成比例增加干扰修正
对于特定的激发光源和被分析材料的成分造成的干扰有时表现为成比例增加的干扰，这可引起曲线的转动。
无论是叠加式干扰，还是成比例增加干扰都是用一个干扰系数乘干扰元素的百分含量来修正光强比，为了能进行对第三元素干扰的修正，必须要知道第三元素的含量。
对于元素的干扰修正的数据处理，由专业的仪器厂家编写的软件，能很好的利用计算机直接完成。
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