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新型光谱仪探测器介绍

发布时间:2020-08-31 08:54:31         点击:182

多种探测器分辨率及适用能量范围与应用领域的比较,为比较方便,利用分光晶体的波长色散光谱仪的整体分辨率也列于表中。目前能量探测器的分辨率和计数率多已达到实用水平,有些类型的能量分辨率甚至已接近理论极限。应该指出的是,采用不同的准直器,所得分辨率会有所差别。


分光晶体LiF200分辨率31,适用于波长色散领域。

波长色散-分光晶体LiF220分辨率22,,适用于波长色散领域。

Si(Ii)探测器分辨率140,,适用于150keV领域。

高纯Ge探测器分辨率150,适用于1~120keV领域。

Si漂移探测器(SDD)分辨率140,适用于二维阵列领域。

温差电冷型半导体探测器(SiPIN)分辨率149,适用于2~25keV领域。

电耦合阵列探测器(CDD)分辨率130,适用于二维阵列领域。

超导跃变徽热量感应器(TES)分辨率3.9,适用于实验新型领域。

超导隧道结探测器(STJ)分辨率12,适用于实验新型领域。

CdZnTe探测器分辨率280,适用于2~100keV领域。

低能Ge探测器分辨率522,适用于5~1000领域。

四叶花瓣型探测器分辨率1050,适用于高能粒子领域。

能量色散荧光光谱仪

能量色散荧光光谱仪

尽管波长色散X射线光谱仪由于使用分光晶体而达到约12eV的分辨率,但最新的能量探测器已可达到4eV,在分辨率方面已取得优势。目前许多厂家已推出了成功的能量色散X射线光谱仪,波长色散与能量色散在X射线光谱仪中的份额已发生明显变化,能量色散X射线光谱仪的比重显著增加。

事实上,如果新型能量探测器在计数率和制造工艺的稳定性方面能取得突破,则能量色散X射线光谱仪有可能在未来逐步取代复杂的波长色散X射线光谐仪系统,成为X射线荧光光谱分析领域的主流。

 

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