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什么是偏振X射线荧光光谱仪?

发布时间:2020-10-27 09:28:14         点击:3092

       X射线偏振现象是在1906年由R.Barkla首先发现, 1973Yoyng Dzubay首先把偏振用于EDXRF21 世纪初相继利用X射线的偏振和衍射性质开发出了纯金属靶、Barkla靶、Bragg靶等二二次靶,与荧光靶一起用作偏振仪的光源, 2003PANalytical推出了Epsilon 5型偏振仪


       当X射线与物质相互作用的散射角为90°时就可产生几乎完全偏振的X射线。

真空荧光光谱仪

真空荧光光谱仪

       X射线管、二次靶和样品按照笛卡儿几何两两呈90°放置原级X射线与偏振靶以90°发生散射后产生高度偏振的X射线,再照射样品激发出各元素的特征X射线这种几何设置可以大幅度降低弹性和非弹性散射X射线造成的探测本底,并且具有一定的选择激发作用,从而提高峰背比、显著降低检出限。

       常用的纯金属二次靶有AIZrMoCoPbFeZn可产生强单色X射线适宜于测量特定元素;创想仪器的荧光光源是可选的,以备适宜不同测量特定元素。

       Barkla靶是由低原子序数元素组成的高密度物质可产生强多色X射线,适宜于激发Z>22的元索;Bragg靶是一种单晶体,只在某一方向反射特定能量的X射线,通常有LiF、高定向热解石墨(HOPG),可产生强单色X射线适宜于激发11≤Z≤22的轻元素。

       比较了BC4HOPGAl2O33种靶材对原级X射线散射的影响,发现Al2O3适宜于宽范围元素的分析。P - EDXRF能增强对痕元素的敏感度、制样简便、分析快速、廉价,在植物修复领域有很大的应用潜能,,和高亮度的同步辐射及高性能的X射线透镜联合使用可以扩展出新的功能,如元素映射、化学态成像、细胞水平的元素鉴别等

 

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