EDX-9000Max上照式能量色散X荧光分析仪是创想仪器推出的全元素分析仪器、该仪器利用低能X光管进行激发、采用了半导体电制冷探测器进行探测、为粉末样抽真空测量设计的上照式结构、分析元素多、范围广、2048道数字化多道脉冲分析技术对X射线光谱进行精细分析、一次性可以完成30多种元素的快速、准确分析、一台设备相当于一个化验室、是现代分析化学重要的分析手段之一。

主要优势如下：

Ø 采用全数字化谱分析技术（一种核脉冲信号高速数字分离方法、系统及数字化谱仪）、计数率高、无漏计、稳定性好；

Ø 采用目前先进的电致冷硅漂移半导体探测器、分析元素多、分辨率高；

Ø 采用高真空度测样装置、消除了空气对低能X射线的阻挡、满足对轻元素的准确分析；

Ø 样品种类：粉状、块状；

Ø 腔内环境：空气或真空；

Ø 采用自动寻峰、S标样测量等方式、确保了仪器短期稳定性和长期稳定性；

Ø 根据不同样品自动切换滤光片和准直器、保证了不同类型样的测量精度；

Ø 开放式工作曲线标定平台、可量身定做物质检测分析和控制方案；

Ø 自行设定报告格式（Excel、PDF等）、符合多种统计及格式要求；

Ø 人性化设计、一体化结构、可适应不同环境、24小时连续工作、故障率低；

Ø 2048道多道谱仪实时测量显示、对样品X光谱进行精细分析、系统可自动识别谱线、方便了解样品的组成；

Ø 可一次性多种元素的快速、无损、准确分析；

数据管理设有用户密码、加强测试数据的严肃性及质量品控的可靠性。

Ø 元素分析范围：Na（钠）—U（铀）

Ø 测量时间：30-200秒

Ø 分析范围：1ppm-99.99%

Ø 仪器分辨率：优于100ev

Ø 高压：5KV-50KV

Ø 管流：5µA-1000µA

Ø 数字化多道分析器：2048道

Ø 基线漂移自动校准

Ø 仪器分析精度：RSD≤0. 05%（采用连续20次分析同一个样品所得的数据统计）

Ø 真空度：高真空度

Ø 仪器冷却方式：风冷

Ø 校正方式：采用S标样校准数据

Ø 探测器：高分辨率进口探测器

Ø 仪器结构：适合粉末样品检测的上照式结构、具有升降平台和自旋系统的仪器。

Ø 准直器和滤光片：复合型多组自动切换

Ø 高清晰样品摄像头：500万像素

Ø 长：60cm，宽：51cm，高：146cm

Ø 重量：68kg (主机部分)