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能量探测器原理的荧光光谱仪
发布时间：2020-04-23 10:52:12 点击：4094
波长色散X射线荧光光谱仪的优点是整体分辨率高，稳定性好。但分光晶体的使用在提高分辨率的同时，也使得体系结构变得复杂。在严酷环境和现场分析时，波长色散X射线光谱仪变得不再实用。
能量探测器由于无需晶体分光即可获得足够的分辨率，因此省却了分光和测角系统，且能满足大部分实际应用的需要，特别是在太空探测、现场和原位分析领域具有不可替代的作用。因此能量探测器获得了足够的重视和相当快的发展。其中以Si(Li)为代表的半导体探测器已被广泛应用于实际。
能量探测原理在X射线光谱分析技术领域，能量探测器是目前发展最快的领域，它具有比正比计数器和闪烁计数器更高的能量分辨率。目前锂漂移硅探测器已得到广泛应用。
能量探测器原理的荧光光谱仪
在结构上，锂漂移硅探测器是一种硅或锗单晶半导体探测器，表层为正电性的p型硅，中间为锂补偿本征区，底层为负电性的n型硅，组成PIN型二极管。其中表层p型区为死层，是非活性探测区，本征区则是由锂漂移进p型硅中形成，以补偿其中的不纯物或掺杂物，并增加电阻。锂漂移硅探测器通常可表示为Si(Li)，简称硅锂探测器。
当在探测器的两端施加一逆向偏压，产生的电场将耗尽补偿区中的残留电子空穴对载流子，该耗尽区就是探测器的辐射敏感区或活性区。当X射线光子穿过半导体的锂漂移活性区时，其中的硅原子将由于光电吸收产生光电子，在负偏压作用下，空穴流向p型区，电子流向n型区。探测器直径越小，在低能范围的分辨率越高，厚度越大，对高能光子的探测效率越高。以上为X荧光能量探测器的分析的原理和开展的研究。
