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高压产生特征与连续X射线谱

发布时间:2019-11-15 09:48:15         点击:288

连续X射线谱

       X射线光管利用由高压产生的X射线束作为激发源。高能入射粒子或电子与靶元素中束缚力较弱的电子发生随机碰撞后,电子减速,功能损失,损失的能量将以光子发射的形式出现,从而产生连续的X射线谱,称为韧致辐射。

       XRF是一项非破坏性的元素定性和定量分析的技术,其原理是根据被入射X光提升到激发态的样品,在回复到基态时,所放射的X光荧光,具有因元素种类和含量不同而有不同的波长X光射线的特性。当X光照射样品时,有两种主要的现象发生,即:散射现象(Scattering)和光电吸收(Photoelectric Absorption)。

高压产生特征与连续X射线谱

高压产生特征与连续X射线谱

特征X射线谱

       产生特征X射线所需要的最小能量等于相应壳层电子的结合能,也称为吸收边能量,只有当光管超出临界激发电压的状态下,靶的特征线才会出现。

        电压太高时,电子穿透深度过大,靶材的自吸收将会变得十分显著。故而只有当光管电压等于临界激发电压的3-5倍时,可得到最佳的特征谱线强度。这对于选择靶线激发轻元素分析具有指导意义。

       X射线谱由连续谱和标识谱两部分组成,标识谱重叠在连续谱背景上,连续谱是由于高速电子受靶极阻挡而产生的轫致辐射,其短波极限λ0由加速电压V决定:λ 0 = hc /( ev )为普朗克常数,e为电子电量,c为真空中的光速。标识谱是由一系列线状谱组成,它们是因靶元素内层电子的跃迁而产生,每种元素各有一套特定的标识谱,反映了原子壳层结构 的特征。同步辐射源可产生高强度的连续谱X射线,现已成为重要的X射线源。

 

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