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X荧光光谱仪的镀层检测

发布时间:2022-12-01 08:53:27         点击:1574

       X荧光光谱仪利用X荧光射线的反射强度,判定样品中物质组成,但同时,X荧光光谱仪也可以对样品表面的镀层厚度进行检测分析。

       当样品很薄时,比如镀层样品,样品中被激发的X射线荧光可能会穿透镀层,镀层的厚薄会影响X射线荧光信号的强弱,镀层越厚,镀层中被激发的X射线荧光信号就越强。

       当镀层的厚度或镀层的成分发生变化时,X射线荧光的信号会随之变化。通过建立镀层厚度和成分与X射线信号强度的关联关系,就可以分析镀层的厚度和成分。

       镀层是通过电镀在机械制品上沉积出附着良好的,但性能和基体材料不同的金属覆层。电镀层一般都比较薄,从几十纳米到几十微米不等。通过电镀,可以再机械制品上获得装饰保护性和各种功能性的表面层,还可以修复磨损和加工失误的工件,镀层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环,是产品达到优等质量标准的必备手段。金属镀层通常按镀层的用途可把镀层分为三大类,即防护性镀层,防护一装饰性镀层和功能性镀层。

X荧光光谱仪的镀层检测

X荧光光谱仪的镀层检测

       X射线荧光光谱分析可以非破坏性同时完成组分和厚度测试,厚度的测量范围视材料和元素而定,通常在1nm-50um之间。X射线荧光光谱法分析镀层与其常规定量分析法相比较,被测元素的特征X射线荧光强度不仅与镀层中待测元素和基材的组成有关,而且与厚度直接相关。

       能量色散X射线荧光光谱分析相对其他分析方法,具有无需对样品进行特别的化学处理、快速,方便,测量成本低等明显优势,特别适合用于各类相关企业作为过程控制和检测使用。是目前应用较为广泛,具有速度快、无损化以及可实现多镀层同时分析等特点。
 

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